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1、驱动电压下降10至漏极电压上升90的时间间隔为关断时 间； 3)寄生体二极管反向恢复电流和反向恢到漏极电压下降90的时间间隔为开通时间； 在短脉冲的下降沿处， 测试待测器 件T2驱动电压和漏极电压： 操作方式如1)； 在短脉冲上升沿处， 测试待测器件T2的驱动电压和漏极电压， 驱动电压 上升10压和漏极电压， 驱动电压下降10至漏极电压上升10的时间间隔 为关断延时； 2)开通、 关断时间测试压上升10到漏极电压下降10的时间间隔为开通延时； 在短脉冲的下降沿处， 测 试待测器件T2的驱动电锁待测器件T3、 T4驱动脉冲； 在短脉冲上升沿处， 测试待测器件T2的驱动电压和漏极电压， 驱动电测试。
2、： 连接第一节点、 第二节点， 待测器件T1不施加驱动， 待测器件T2施加一长一短两个脉冲， 封 特征在于， 包括单独测试方法和组合测试方法； 所述单独测试方法包括如下步骤： 1)开通、 关断延时2、 T4并联。 3.一种宽禁带半导体功率器件参数测试方法， 使用权利要求1或2所述的测试平台， 其率器件参数测试平台， 其特征在于： 所述测试平 台还包括两个箝位电路， 两个箝位电路分别与待测器件T； 待测器件T1、 T2、 T3、 T4的栅极与驱动模块连接。 2.如权利要求1所述的宽禁带半导体功件T1的源极、 待测器件T2的漏极连接， 另一端与第二节点连接； 待测器件T1的漏 极与第一节点连接的漏。
3、极连接； 第三节点分别与待测器件T3的源极、 待测器件T4的漏极连接； 电感的一端分 别与待测器器 件T2的源极、 待测器件T4的源极连接； 另一个电容的另一端分别与负载的另一端、 待测器件 T3极和第一节点 连接， 电容的另一端分别与直流供电模块的负极、 另一个电容的一端、 负载的一端、 待测： 直流供电模块、 两个 电容、 负载、 电感和驱动模块； 其中一个电容的一端分别与直流供电模块的正.29 CN 112147478 A 1.一种宽禁带半导体功率器件参数测试平台， 其特征在于， 包括全部参数测 试。 权利要求书3页 说明书8页 附图4页 CN 112147478 A 2020.12上的。
4、工作模式， 基本 涵盖了实际常用的工作条件， 所测特性参数基本 满足需求， 只需两次实验即可完成一端分别与待测器件T1 的源极、 待测器件T2的漏极连接， 另一端与第二 节点连接； 待测器件在平台 待测器件T3的漏极连 接； 第三节点分别与待测器件T3的源极、 待测器 件T4的漏极连接； 电感的的一端、 待测器件T2的 源极、 待测器件T4的源极连接； 另一个电容的另 一端分别与负载的另一端、流供电模块的正极和第一节点连 接， 电容的另一端分别与直流供电模块的负极、 另一个电容的一端、 负载， 平台包括： 直流供电模块、 两 个电容、 负载、 电感和驱动模块； 其中一个电容的 一端分别与直体功率器件参数测试平台 及方法 (57)摘要 本发明涉及一种宽禁带半导体功率器件参 数测试平台及方法玲 (51)Int.Cl. G01R 31/26(2014.01) (54)发明名称 一种宽禁带半导子钧 (74)专利代理机构 北京卫平智业专利代理事务 所(普通合伙) 11392 代理人 张新利谢建北京交通大学 地址 100044 北京市海淀区西直门外上园 村3号 (72)发明人 李艳赵方玮魏超殷(21)申请号 202010790309.0 (22)申请日 2020.08.07 (71)申请人 (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日。
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